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NLD觸摸屏耐電痕化指數(shù)實驗箱 測量在電壓高達600V時固體電氣絕緣材料在電場作用下表面暴露于含雜質(zhì)的水時的相對耐電痕化性能。當將電壓施加到放在材料表面上規(guī)定 的電極裝置之間，且電解液以規(guī)定的時間間隔滴到兩電極之間時，在此試驗情況下可能產(chǎn)生電痕化。引起材料破壞所必需的液滴數(shù)隨著施加電壓的減小而增加，且在低于某一限值時，不發(fā)生電痕化。

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新款NLD系列耐電痕化指數(shù)測量儀測量在電壓高達600V時固體電氣絕緣材料在電場作用下表面暴露于含雜質(zhì)的水時的相對耐電痕化性能。當將電壓施加到放在材料表面上規(guī)定 的電極裝置之間，且電解液以規(guī)定的時間間隔滴到兩電極之間時，在此試驗情況下可能產(chǎn)生電痕化。引起材料破壞所必需的液滴數(shù)隨著施加電壓的減小而增加，且在低于某一限值時，不發(fā)生電痕化。

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新款NLD系列耐電痕化指數(shù)測試儀 測量在電壓高達600V時固體電氣絕緣材料在電場作用下表面暴露于含雜質(zhì)的水時的相對耐電痕化性能。 當將電壓施加到放在材料表面上規(guī)定 的電極裝置之間，且電解液以規(guī)定的時間間隔滴到兩電極之間時，在此試驗情況下可能產(chǎn)生電痕化。引起材料破壞所必需的液滴數(shù)隨著施加電壓的減小而增加，且在低于某一限值時，不發(fā)生電痕化。